Device에 전기적인 신호를 전달하여 제품의 양품과 불량여부를 검사합니다.
다양한 종류의 Probe Card 제작 대응이 가능합니다.
(Cantilever / Vertical / MEMS Type)
반도체의 전기적 동작 상태 검사에 필요한 기구적 역할을 하는 Test Socket과 Test probe Pin은 테스트 장비와 여러 종류의 반도체 칩이 호환될 수 있도록 어댑터 역할을 수행하는 소모성 부품으로 다품종, 주문생산으로 고객의 요구에 적극 대응합니다.
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완성된 반도체 제품을 고온에서 전기적 스트레스를 인가하여 초기 불량이 발생할 소지가 있는 제품을 걸러내기 위한 TEST용 Board 입니다
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Device에 전기적인 신호를 전달하여 제품의 양품과 불량여부를 검사합니다.
다양한 종류의 Probe Card 제작 대응이 가능합니다.
(Cantilever / Vertical / MEMS Type)
반도체의 전기적 동작 상태 검사에 필요한 기구적 역할을 하는 Test Socket과 Test probe Pin은 테스트 장비와 여러 종류의 반도체 칩이 호환될 수 있도록 어댑터 역할을 수행하는 소모성 부품으로 다품종, 주문생산으로 고객의 요구에 적극 대응합니다.
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고객의 요구사항을 면밀히 반영하여 3D 시뮬레이션으로
공정 검토를 통해 시간 단축과 공정비용을 최소화 합니다.
