Probe Card

• 다양한 제품의 제작 대응이 가능합니다.
  (Cantilever / Vertical / MEMS Type)

• 높은 난이도와 고집적도의 반도체를 Test 하는데 적합한 제품 생산합니다.

• WLCSP Type을 검사 하는데 적합한 제품 생산합니다.

• Hi-Voltage, Hi-Current 검사용 제품 생산합니다.