Test Socket
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반도체의 전기적 동작 상태 검사에 필요한 기구적 역할을 하는 Test Socket과·Test Probe Pin은 테스트 장비와 여러 종류의 반도체 칩이 호환될 수 있도록·어댑터 역할을 수행하는 소모성 부품으로 다품종, 주문생산으로 고객의 요구에·적극 대응합니다.
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Test Socket은 다양한 종류의 BGA, LGA, QFN, QFP, CSP, TSOP, SOP등에·적합한 Test Socket과 PoP, Multi-Para용 Test Socket등 종합적이고 최적의 토탈·솔루션을 제공합니다.
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Test Probe Pin은 Pogo Pin, MEMS, Rubber 등 다양한 제품을 활용하여,· Fine Pitch와 High Speed에 대응하는 독보적인 기술 보유하고 있습니다.